参考文献

リートベルト法、パターン分解、MPF 法、MEP 法を含む粉末回折データの解析技術と三次元可視化については、長年にわたり雑誌、書籍、報告書に発表してきました。それらの文献を以下に列挙します。

  1. 泉 富士夫, "粉末Ｘ線回折図形の Rietveld 解析とシミュレーション", Ｘ線分析の進歩, 14, 43–56 (1983).
  2. 泉 富士夫, "Rietveld 解析システム XPD の改訂", Ｘ線分析の進歩, 15, 155–161 (1984).
  3. 泉 富士夫, "Ｘ線および中性子回折図形の Rietveld 解析システム", 日本結晶学会誌, 27, 23–31 (1985).
  4. 泉 富士夫, "Ｘ線および中性子回折図形の Rietveld 解析", 鉱物学雑誌, 17, 37–50 (1985).
  5. 泉 富士夫, "粉末回折のルネサンス ― Rietveld 法とその周辺技術", 現代化学, No. 180, 54–60 (1986).
  6. F. Izumi, H. Asano, H. Murata, and N. Watanabe, "Rietveld analysis of powder patterns obtained by TOF neutron diffraction using cold neutron sources", J. Appl. Crystallogr., 20, 411–418 (1987).
  7. 泉 富士夫, "粉末Ｘ線回折パターンのシミュレーション", セラミックス, 23, 557–560 (1988).
  8. F. Izumi, "A Software Package for the Rietveld Analysis and Simulation of X-Ray and Neutron Diffraction Patterns", Rigaku J., 6, No. 1, 10–19 (1989).
  9. 泉 富士夫, "統合化リートベルト解析システム FAT-RIETAN の世界 — 理学版のユーザーへのメッセージ", 理学電機ジャーナル, 20, No. 1, 42–45 (1989).
  10. F. Izumi, "The world of the integrated rietveld analysis system FAT-RIETAN – A message to users of the Rigaku version", Rigaku J., 6, No. 2, 47–49 (1989).
  11. 泉 富士夫, "リートベルト法による結晶構造の精密化", 応用物理, 59, 2–17 (1990).
  12. 泉 富士夫, "RIETAN — 今日まで、そして明日から", 理学電機ジャーナル, 22, No. 1, 16–27 (1991).
  13. 泉 富士夫, "リートベルト法", 日本結晶学会誌, 34, 76–85 (1992).
  14. 泉 富士夫, "分析化学ハンドブック", 日本分析化学会編, 朝倉書店 (1992), pp. 511–519.
  15. F. Izumi, "The Rietveld Method", ed. by R. A. Young, Oxford University Press, Oxford (1993), Chap. 13.
  16. 泉 富士夫, "この人にきく — 泉 富士夫氏", セラミックス, 28, 952–954 (1993).
  17. Y.-I. Kim and F. Izumi, "Structure Refinements with a New Version of the Rietveld-Refinement Program RIETAN", J. Ceram. Soc. Jpn., 102, 401–404 (1994).
  18. 泉 富士夫, "リートベルト解析雑録", マック・サイエンス技報, 7, No. 1, 15–24 (1994).
  19. 泉 富士夫, "結晶成長ハンドブック", 日本結晶成長学会・同ハンドブック編集委員会編, 共立出版 (1995), pp. 943–945.
  20. 泉 富士夫, "第2世代のリートベルト解析プログラム RIETAN-94", "セラミックデータブック ’95", セラミックデータブック編集委員会編, 工業製品技術協会 (1995), pp. 154–159.
  21. F. Izumi, "Applications of Synchrotron Radiation to Materials Analysis", ed. by H. Saisho and Y. Gohshi, Elsevier, Amsterdam (1996), Chap. 7.
  22. 泉 富士夫, "二つの RIETAN — プログラム開発余話", 理学電機ジャーナル, 27, No. 1, 18–33 (1996).
  23. 泉 富士夫, "これだけは知っておきたいセラミックスのすべて", 日本セラミックス協会編, 日刊工業新聞社 (1996), pp. 56–57.
  24. 泉 富士夫, "機器分析ガイドブック", 日本分析化学会編, 丸善出版 (1996), p. 641 (1996).
  25. 泉 富士夫, "V. 中性子の弾性散乱 — 中性子回折, 3. 高温超伝導体", RADIOISOTOPES, 46, 108–113 (1997).
  26. 池田卓史, 泉 富士夫, "特性Ｘ線粉末回折による構造解析の限界に挑む", マック・サイエンス技報, 10, No. 1, 22–34 (1998).
  27. F. izumi, "Recent Advances in the Rietveld-Analysis Program Rietan", Commission on Powder Diffraction, IUCr Newsletter No. 20, 22–23 (1998).
  28. 池田卓史, 泉 富士夫, "長尺ソーラースリットを搭載した粉末Ｘ線回折計とリートベルト解析プログラム RIETAN-98 の開発とその応用", Ｘ線分析の進歩, 30, 219–232 (1999).
  29. 泉 富士夫, "結晶解析ハンドブック", 日本結晶学会・同ハンドブック編集委員会編, 共立出版 (1999), pp. 492–499.
  30. 泉 富士夫, 池田卓史, 熊澤紳太郎, "部分プロファイル緩和と最大エントロピー法を導入した粉末構造解析", 鉱物学雑誌, 28, 57–63 (1999).
  31. F. Izumi and T. Ikeda, "A Rietveld-Analysis Program RIETAN-98 and Its Applications to Zeolites", Mater. Sci. Forum, 321–324, 198–204 (2000).
  32. 泉 富士夫, "統合パターン・フィッティングシステム RIETAN-2000 を語る", 波紋, 10, 21–31 (2000).
  33. 泉 富士夫, 池田卓史, "多目的パターン・フィッティングシステム RIETAN-2000 とその微細孔物質への応用", 日本結晶学会誌, 42, 516–521 (2000).
  34. 泉 富士夫, 大橋直樹, "結晶の世界への応用（Ⅲ）― 粉末回折データを用いた構造の精密化", セラミックス, 35, 1055–1064 (2000).
  35. F. Izumi, "Rietveld Analysis and MEM-Based Whole-Pattern Fitting under Partial Profile Relaxation", Rigaku J., 17, No. 1, 34–45 (2000).
  36. 泉 富士夫, "多目的パターン・フィッティングシステム RIETAN-2000 ユーザーガイド", 理学電機ジャーナル, 31, No. 2, 17–29 (2000).
  37. F. izumi and T. Ikeda, "Beyond the abilities of Rietveld analysis: MEM-based pattern fitting with synchrotron X-ray powder diffraction data", Commission on Powder Diffraction, IUCr Newsletter No. 26, 7–9 (2001).
  38. 池田卓史, 泉 富士夫, "RIETAN-2000の Le Bail 解析機能の検証と応用", Ｘ線分析の進歩, 32, 45–61 (2001).
  39. 泉 富士夫, "粉末Ｘ線解析の実際 ⏤ リートベルト法入門", 日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会編, 中井 泉, 泉 富士夫編著, 朝倉書店 (2002), 6, 9.
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  41. 泉 富士夫, "RIETAN 徹底活用ガイド (1) 入出力ファイル", 日本結晶学会誌, 44, 246–254 (2002).
  42. 泉 富士夫, "RIETAN 徹底活用ガイド (2) 粉末回折データから得られる情報", 日本結晶学会誌, 44, 311–317 (2002).
  43. 泉 富士夫, "RIETAN 徹底活用ガイド (3) 電子・原子核密度分布の三次元可視化", 日本結晶学会誌, 44, 380–388 (2002).
  44. 泉 富士夫, "セラミック工学ハンドブック", 第2版, 日本セラミックス協会編, 技報堂出版 (2002), pp. 531–544.
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  49. 泉 富士夫, "分析試料前処理ハンドブック", 中村 洋監修, 菊谷典久, 藤原祺多夫, 古野正浩編, 丸善出版 (2003), pp. 301–303.
  50. F. Izumi "Beyond the ability of Rietveld analysis: MEM-based pattern fitting", Solid State Ionics, 172, 1–6 (2004).
  51. 泉 富士夫, "結晶構造と電子状態の三次元可視化システム VENUS", リガクジャーナル, 36, No. 1, 18–27 (2005).
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  53. 泉 富士夫, "実験化学講座 11 物質の構造 III 回折", 第5版, 日本化学会編, 丸善出版 (2006), 4章.
  54. 泉 富士夫, 河村幸彦, "飛行時間型粉末中性子回折データの最大エントロピー法解析による原子核密度の三次元可視化", 分析化学, 55, 391–395 (2006).
  55. K. Momma and F. izumi, "An integrated three-dimensional visualization system VESTA using wxWidgets", Commission on Crystallographic Computing, IUCr Newsletter No. 7, 106–119 (2006).
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  57. 泉 富士夫, "計算シミュレーションと分析データ解析", 日本表面科学会編, 丸善出版 (2008), 6･1･1.
  58. K. Momma and F. Izumi, "VESTA: a three-dimensional visualization system for electronic and structural analysis", J. Appl. Crystallogr., 41, 653–658 (2008).
  59. 泉 富士夫, 門馬綱一, "新世代システム RIETAN-FP・VESTA への招待", セラミックス, 43, 902–908 (2008).
  60. 泉 富士夫, "粉末Ｘ線解析の実際", 第2版, 中井 泉, 泉 富士夫編著, 朝倉書店 (2009), 7, 10.1, 10.2, 10.3, 11.
  61. 泉 富士夫, "リートベルト法と MEM に基づくパターンフィッティングによる中性子回折データの解析", RADIOISOTOPES, 59, 191–200 (2010).
  62. 泉 富士夫, 門馬綱一, "構造精密化・三次元可視化システム RIETAN-FP・VENUS による磁気構造と核密度分布の解析", J. Vac. Soc. Jpn., 53, 706–712 (2010).
  63. 門馬綱一, 泉 富士夫, "鉱物科学における三次元可視化システム VESTA の応用", 岩石鉱物科学, 39, 136–145 (2010).
  64. F. Izumi and K. Momma, "Three-dimensional visualization of electron- and nuclear-density distributions in inorganic materials by MEM-based technology", IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng., 18, 022001 (2011).
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  66. K. Momma and F. Izumi, "VESTA 3 for three-dimensional visualization of crystal, volumetric and morphology data", J. Appl. Crystallogr., 44, 1272–1276 (2011).
  67. 門馬綱一, 泉 富士夫, "次世代三次元可視化プログラム VESTA 3", 日本結晶学会誌, 54, 119–120 (2012).
  68. T. Ida and F. Izumi, "Analytical method for observed powder diffraction intensity data based on maximum likelihood estimation", Powder Diffr., 28, 124–126 (2013).
  69. K. Momma, T. Ikeda, A. A. Belik, and F. Izumi, "Dysnomia, a computer program for maximum-entropy method (MEM) analysis and its performance in the MEM-based pattern fitting", Powder Diffr., 28, 184–193 (2013).
  70. 河村幸彦, 門馬綱一, 泉 富士夫, "粉末回折データの MEM 解析・三次元可視化用ソフトウェアの開発", 波紋, 23, 66–71 (2013).
  71. 泉 富士夫, "日本の結晶学 (Ⅱ) — その輝かしい発展 —", 日本結晶学会編 (2014), pp. 20–21.
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  73. 河村幸彦, 泉 富士夫, "CO ハイドレートにおけるゲスト分子の不規則配置", 波紋, 25, 22–25 (2015).
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  75. 泉 富士夫, "RIETAN-FP・VENUS システムと外部プログラムによる粉末構造解析 — 1. RIETAN-FP・VENUS システムと統合支援環境 —", まてりあ, 56, 393–396 (2017).
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  77. 泉 富士夫, "RIETAN-FP・VENUS システムと外部プログラムによる粉末構造解析 — 3. 構造モデルの導出と電子・散乱長密度の三次元可視化 —", まてりあ, 56, 503–507 (2017).
  78. 泉 富士夫, 宮崎晃平, "CIF を出発点とする第一原理計算支援用ユーティリティー", セラミックス, 54, 473–476 (2019).
  79. 泉 富士夫, "粉末Ｘ線解析の実際", 第3版, 中井 泉, 泉 富士夫編著, 朝倉書店 (2021), 8, 9, 11.2, 11.3.
  80. C. Zhong, D. Kato, K. Ogawa, C. Tassel, F. Izumi, H. Suzuki, S. Kawaguchi, T. Saito, A. Saeki, R. Abe, and H. Kageyama, "Bi4AO6Cl2 (A = Ba, Sr, Ca) with Double and Triple Fluorite Layers for Visible-Light Water Splitting", Inorg. Chem., 60, 15667–15674 (2021).

RIETAN-2000 以前の時代に執筆した文献も含まれていますが、RIETAN-FP を使う際にも役立つでしょう。事実、RIETAN-FP の英文マニュアル（RIETAN-FP_manual,pdf）は文献21をベースとして執筆しました。

Co 系超伝導体の発見を報じた Nature 論文 [47] は少々場違いですが、自作 MEM 解析プログラム PRIMA を初めて利用した研究だったことを考慮して上記リストに含めました。単位胞内の総電子数が指定値から逸脱するというバグに気づいたのは、この研究のおかげでした。

"粉末Ｘ線解析の実際", 第2・3版 [60, 79] は日本結晶学会講習会「粉末Ｘ線解析の実際」のテキストとして RIETAN-FP, ORFFE, VENUS（PRIMA/Dysnomia, ALBA、VESTA）の利用を前提に編集・執筆しました。リートベルト・MEM 解析に必要不可欠な結晶学の基礎について詳述しているため、RIETAN-FP・VENUS システムを徹底活用するための必携書といって過言でありません。粉末Ｘ線回折はマーケットがかなり大きい実験技術なので、理工系専門書としてはかなりの部数を売り上げています。

Dysnomia に関する論文 [69] では粉末Ｘ線回折データの MPF 解析例三つを詳しく記述しました。日本金属学会会報「まてりあ」の入門講座 [75〜77] は最新の RIETAN-FP・VENUS 統合支援環境を利用した粉末回折データの解析を略述しています。

RIETAN-FP は VESTA との有機的連携を念頭に置いて開発しました。VESTA の概要は文献 [55, 58, 59, 63, 66, 67, 70] で紹介しています。 文献 [66] の驚異的な被引用数についてはブログエントリー「NIMS 発の論文で被引用数トップの地位を確立！」をお読み下さい。

シェルスクリプト cifconv [78] は多数の CIF をバッチ処理し、全サイトの静電ポテンシャルと bond valence sum の表を出力するために開発し始めました [80]。複数相の CIF をリートベルト解析用入力ファイル *.ins に変換し、種々の結晶学的情報を取得し、Supercell で不定比化合物の誘導構造を生成し、主要DFT 計算プログラム用入力ファイルを出力する機能も備えています。